0 引言

在電力系統(tǒng)中使用的主變保護(hù)裝置、母差保護(hù)裝置、安穩(wěn)裝置、低頻低壓裝置、備自投裝置等保護(hù)裝置為具有較多出口的保護(hù)裝置類型，其保護(hù)動作根據(jù)不同的邏輯、不同的輪次、不同的時限需要跳不同的運行開關(guān)。不同開關(guān)不同的出口順序組成了復(fù)雜的出口矩陣，運行過程中需要根據(jù)電網(wǎng)運行方式對跳閘矩陣進(jìn)行整定，一旦出現(xiàn)誤整定，跳閘邏輯將差之千里。為了能有效地驗證保護(hù)跳閘邏輯的正確性，需要保護(hù)調(diào)試人員針對不同保護(hù)，對各個保護(hù)出口的跳閘時間進(jìn)行測試。

如圖1所示，現(xiàn)場測試往往采用萬用表測量出口壓板的方法逐個檢測出口矩陣的正確性。由于一次只能測量一個出口，需要耗費大量時間才能完成檢測工作，且由于保護(hù)動作時間短、地電位接觸**等原因會造成萬用表在測量過程中容易出現(xiàn)錯誤，對保護(hù)裝置的正確運行造成嚴(yán)重影響，威脅著電網(wǎng)的安全穩(wěn)定。

1 智能跳閘邏輯矩陣測試儀的原理

為克服傳統(tǒng)測試方法的弊端，本文提供了一種智能跳閘邏輯矩陣測試儀，通過把多出口繼電保護(hù)裝置的保護(hù)動作接點匯總到該裝置上，觀察該裝置面板上保護(hù)裝置的顯示值來分析保護(hù)裝置跳閘矩陣的正確性。另外，深度開發(fā)了計時模塊來實現(xiàn)顯示保護(hù)動作接點動作時間的功能，在保證跳閘矩陣檢測結(jié)果準(zhǔn)確性的同時，更加形象直觀地實現(xiàn)跳閘矩陣檢測結(jié)果的監(jiān)視，*終滿足簡化操作過程和減少工作量的需求，提高多出口繼電保護(hù)裝置跳閘矩陣檢測的工作效率。

智能跳閘邏輯矩陣測試儀原理框圖如圖2所示。

2 智能跳閘邏輯矩陣測試儀主要實現(xiàn)功能

2.1 十六進(jìn)制編碼顯示功能

該功能采用觸摸屏顯示，共有4個獨立顯示窗口，能自動顯示十六進(jìn)制編碼即“0”、“1”、“2”、“3”、“4”、“5”、“6”、“7”、“8”、“9”、“A”、“B”、“C”、“D”、“E”、“F”。每個獨立顯示窗口與其對應(yīng)的4個獨立出口控制字組成一個開入模塊組，通過分析模塊組中的4個獨立出口控制字的開入變位情況，以十六進(jìn)制

計算后顯示在觸摸屏對應(yīng)窗口上。

2.2 出口控制字

以其中任一個模塊組為例，出口控制字如表1所示。

每個出口控制字可選擇兩個獨立開入模塊，比如出口控制字b0，可選擇S1、S2。當(dāng)S1、S2都被選擇時，表示當(dāng)S1和S2同時導(dǎo)通b0才有效。

2.3 獨立開入模塊

圖3為獨立開入模塊，具體介紹如下：

（1）中間為開入量閉合指示燈，當(dāng)收到開入量時，指示燈能自動點亮并保持至手動復(fù)歸。

（2）啟表方式：可使用界面觸摸屏的啟動按鍵，也可使用面板上時間觸發(fā)開入量端子，可以接空接點，也可以接10～250 V的帶電位接點。

（3）停表方式：主要用于測量聯(lián)跳運行設(shè)備的開出回路，為了避免測量聯(lián)跳運行設(shè)備的出口回路時誤碰導(dǎo)致該運行設(shè)備操作電源跳閘，可以使用電平輸入方式，通過判斷壓板出口端電位的變化進(jìn)行停時，從而測量出口動作時間。

（4）開入時間顯示在觸摸屏，時間級別為毫秒；當(dāng)裝置收到時間觸發(fā)開入量或手動觸發(fā)時馬上計時，當(dāng)開入端子收到相應(yīng)開入量后馬上停表，同時顯示對應(yīng)時間。

3 測試方法

開入量端子可以接空接點，也可以接10～250 V DC的帶電位接點。電平開入量端子主要用于測量聯(lián)跳運行設(shè)備的開出回路，為了避免測量聯(lián)跳運行設(shè)備的出口回路時誤碰導(dǎo)致該運行設(shè)備操作電源跳閘，利用高阻抗輸入測試判斷電壓變化的原理，通過判斷壓板出口端電位的變化進(jìn)行停時，從而測量出口動作時間。

智能跳閘邏輯矩陣測試儀接線如圖4所示。

保護(hù)裝置每個出口壓板對應(yīng)接入測試儀的一個開入，連接好所有出口壓板試驗接線后需對參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，點擊屏幕config按鍵，可進(jìn)入設(shè)置畫面，可配置S1～S32的輸入方式以及設(shè)置測試停止時間：1～50 s。測試過程中當(dāng)前面板Trigger有輸入信號時開始計時，S1～S32的動作時間分別記錄在屏幕上，沒有動作的時間為0。測試畫面如圖5所示。

4 結(jié)語

本文根據(jù)多出口繼電保護(hù)裝置傳統(tǒng)出口矩陣測試方法的弊端，設(shè)計研制了新的智能跳閘邏輯矩陣測試儀，有效地解決了保護(hù)裝置傳統(tǒng)出口矩陣測試方法效率低下、受外界環(huán)境干擾測試不可靠、出口時間不能測量等問題，滿足了簡化保護(hù)裝置出口矩陣測試操作過程和減少工作量的需求，提高了保護(hù)跳閘矩陣檢測的工作效率，縮短了保護(hù)裝置定檢、調(diào)試過程中出口矩陣檢測時間，進(jìn)而減少了一次設(shè)備停電時間，提高了人機功效。